職位描述
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1、負(fù)責(zé)芯片和封裝可靠性測試方案制定;
2、負(fù)責(zé)可靠性測試相關(guān)試驗(yàn);
3、對客退芯片和可靠性測試失效芯片進(jìn)行失效分析;
4、根據(jù)失效分析結(jié)果配合芯片設(shè)計(jì)或封裝設(shè)計(jì)進(jìn)行問題定位;
5、根據(jù)分析結(jié)果,完成客訴分析報(bào)告。
任職要求:
1、大學(xué)本科以上學(xué)歷,微電子、電子、半導(dǎo)體相關(guān)專業(yè);
2、3年以上芯片可靠性測試和失效分析經(jīng)驗(yàn);
3、有豐富的芯片失效分析經(jīng)驗(yàn);
4、熟悉各種芯片相關(guān)失效分析的方法(IV curve、X-ray、TDR、EMMI、FIB、SAT、OBIRCH等);
5、熟悉JEDEC,JESD,IEEE等相關(guān)可靠性測試標(biāo)準(zhǔn);
6、熟悉各種可靠性測試項(xiàng)目(包括芯片可靠性和封裝可靠性,如ESD、LU、HTOL、LTOL、HAST、THB、HTSL、uHAST、TCT等)。
2、負(fù)責(zé)可靠性測試相關(guān)試驗(yàn);
3、對客退芯片和可靠性測試失效芯片進(jìn)行失效分析;
4、根據(jù)失效分析結(jié)果配合芯片設(shè)計(jì)或封裝設(shè)計(jì)進(jìn)行問題定位;
5、根據(jù)分析結(jié)果,完成客訴分析報(bào)告。
任職要求:
1、大學(xué)本科以上學(xué)歷,微電子、電子、半導(dǎo)體相關(guān)專業(yè);
2、3年以上芯片可靠性測試和失效分析經(jīng)驗(yàn);
3、有豐富的芯片失效分析經(jīng)驗(yàn);
4、熟悉各種芯片相關(guān)失效分析的方法(IV curve、X-ray、TDR、EMMI、FIB、SAT、OBIRCH等);
5、熟悉JEDEC,JESD,IEEE等相關(guān)可靠性測試標(biāo)準(zhǔn);
6、熟悉各種可靠性測試項(xiàng)目(包括芯片可靠性和封裝可靠性,如ESD、LU、HTOL、LTOL、HAST、THB、HTSL、uHAST、TCT等)。
工作地點(diǎn)
地址:曲靖富源縣亞成微電子6幢
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職位發(fā)布者
程大博/..HR
陜西亞成微電子股份有限公司
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電子技術(shù)·半導(dǎo)體·集成電路
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51-99人
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公司性質(zhì)未知
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西安市高新區(qū)高新三路9號信息港大廈105室
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應(yīng)屆畢業(yè)生
本科
2026-05-07 08:33:16
3154人關(guān)注
注:聯(lián)系我時(shí),請說是在云南人才網(wǎng)上看到的。
